熒光光譜鍍層厚度測量儀膜厚測試儀

德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀

熒光光譜鍍層厚度測量儀膜厚測試儀優(yōu)點

德國設(shè)計 ，技術(shù)先進

一個軟件實現(xiàn)鍍層厚度測量和材料分析兩個功能

擴展統(tǒng)計功能。例如，測量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示

圖像識別：WinFTM可以自行查找預(yù)設(shè)的測量位置

基于基本參數(shù)分析的無標(biāo)準(zhǔn)片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現(xiàn)精確的測量結(jié)果

距離控制測量（DCM）：允許通過快速更改測量距離，在不需要設(shè)置和校準(zhǔn)另一個測量任務(wù)的情況下，測量不同高度的測試部件。軟件能夠識別測量的距離，并自動校正評估。

測量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測量質(zhì)量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務(wù)或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您

任務(wù)程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進行編程并執(zhí)行。例如，一項任務(wù)可以自動測量多個合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺移動到樣品位置，加載每個合金特定的測量條件，最后根據(jù)您的需要生成測試報告

FISCHERSCOPE X射線熒光儀器

在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領(lǐng)域，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測試的一個組成部分。我們的儀器以其精確性、準(zhǔn)確性和耐用性而聞名。同時，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計易于使用，并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測量儀器上。

我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，旨在規(guī)范測量過程。這包括控制X射線、實現(xiàn)測量的可追溯性、生成個性化測量報告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。

我們種類齊全的X射線設(shè)計用于高可靠性地測量不同的應(yīng)用。電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進行質(zhì)量控制。現(xiàn)在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！

德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
熒光光譜鍍層厚度測量儀膜厚測試儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。


FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，配備可編程運行 X/Y 工作臺及 Z 軸升降系統(tǒng)，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。


FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分


FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，用于快速、無損分析材料成分及測量鍍層厚度