熒光X射線鍍層厚度測量儀測厚儀

FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀是一臺款現代化桌上X射線光譜儀（EDXRF）。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
XAN120測量準確，使用安全簡便，堅固耐用節省維護費用。而且，它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統能達到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定。
無論您想測量未知樣品還是測定未知材料，XAN? 120 配合優異的菲希爾 WinFTM? 運行軟件都是您正確的選擇。
FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀采用新改進的基本參數法，無論是無標準片測量還是有標準片測量，都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置，X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN 120 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術。集成了含十字線、射線位置指示標志、光亮及位置調節的視頻顯微系統，將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現在您不再需要調節測量臺或是樣品臺——只需放下樣品即可開始測量。
可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層．